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億光過零檢測光耦
日期：2026-04-02 12:33
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摘要：
億光過零檢測光耦
驅動大功率交流器件時常用雙向可控矽進行功率控製，根據控製方式的不同有過零控製和移相控製。不管哪種控製都要對零點進行檢測，因為雙向過控矽的特性是到了交流的零點，可控矽會自動關閉輸出。我們檢測零點目的就是可控矽在零點關閉輸出後，我們可以根據功率的需求選擇時間來重新觸發可控矽。
但對於單片機弱電直接控製交流肯定是不現實的，用繼電器控製隻能實現簡單的慢速的開關量控製，而如果要實現功率調節，我們就需要用光特性的固態繼電器，這種器件比較貴。而假如用光耦肯定也是不行的，因為普通的光耦是單向器件，對於交流的網電它是不能實現控製的。
在這種情況下，我們*好的選擇就是用EL30XX 係列的光控可控矽，用得*多的EL3053 和EL3083，它們的前端觸發電流都是5mA，隔離電壓達到5000Vrms，適合於對電絕緣特性要求高的工控或醫療電子行業。
EL3053 和EL3083 的主要區彆就是EL3083 有過零檢測，MOC3053 冇有過零檢測，對於有過零檢測功能的EL3083，它每次在過零點的時候會判斷有冇有光輸入，即有冇有前置電流If，如果有If，那麼在這個周期之內，它是導通的，所以它隻能決定一個網電源周期內它是不是導通的，而不能決定在一個周期的某一個時刻開始導通。基於這種特性我們可以用它來實現過零控製，過零控製的缺點是控製精度低，優點是對電網冇有汙染。
對於冇有過零檢測的EL3053 來說，它在有光輸入的時刻開始到這個周期的結束它都是導通的。基於這種特性，如果我們已經檢測到了零點，我們就可以在零點的時刻開始延時一段時間來輸入前置電流If，用它來實現移相檢測。
